國儀量子電鏡-拉曼聯(lián)用解決方案通過光路優(yōu)化與系統(tǒng)集成兩種方式，在同一平臺完成微區(qū)定位、形貌觀測與拉曼檢測，徹底解決傳統(tǒng)跨設(shè)備分析中的定位誤差問題。用戶可在SEM圖像中精準鎖定目標區(qū)域（如缺陷、界面、納米顆粒），直接激發(fā)拉曼激光，同步獲取成分、物相、應力分布等化學結(jié)構(gòu)信息，實現(xiàn)“所見即所析"。

系統(tǒng)支持廣泛材料類型，涵蓋半導體、地質(zhì)樣品、二維材料、生物組織等，應用于失效分析、工藝優(yōu)化、科學研究等多個領(lǐng)域。無論是SEM-Raman一體化，還是SEM+Raman軟聯(lián)用配置，均具備高靈活性、高兼容性與強大數(shù)據(jù)處理能力。

國儀量子電鏡-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)，助力用戶突破表征維度限制，看見更多、解析更深。